MPREP System™简化了扫描电子显微镜(SEM)和串行块面部EM(SBEM)样品制备。MPREP系统福利包括:
- 同时试剂处理
- 控制和降低的试剂消耗
- 增加再现性
- 由于样本触摸有限,降低了错误和事故
- 易于追溯的样品和网格
对于系列块面(SBEM) 3D电磁试样,mPrep ASP-1000提供了实质性的好处。SBEM和其他3DEM方法(FIB-SEM, Array Tomography SEM)需要近一周的人工试剂处理,包括有毒、有毒和反应试剂。使用ASP-1000,额外的好处包括:
- 自动走动样品准备
- 自动化一致性和质量
- 标本的准备在一天内完成,而不是一周
- 大大减少了对有毒试剂的处理。