MPREP System™简化了扫描电子显微镜(SEM)和串行块面部EM(SBEM)样品制备。MPREP系统福利包括:
- 同时试剂处理
- 控制和减少试剂消耗
- 再现性增加
- 由于样本触摸有限,降低了错误和事故
- 易于追踪的样品和网格
对于串行块面(SBEM)3D EM标本,MPREP ASP-1000提供了大量的好处。SBEM和其他3DEM方法(FIB-SEM,阵列断层扫描SEM)可能需要近一周的手动试剂加工,有毒,有害和反应性试剂。使用ASP-1000,额外的福利包括:
- 自动离开标本准备
- 自动化一致性和质量
- 样品准备在一天,而不是一周
- 大大减少了有害试剂的处理。